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晶圓制造企業中大量的數據是以非結構化的形式，也即圖片的形式存在的。尤其是與良率相關的數據。而這些非結構化數據的信息提取嚴重依賴人工，效率非常低下，造成了良率分析的瓶頸。

而缺陷圖片是非結構化數據中的主要部分。晶圓廠希望能利用計算機視覺技術的識別功能，對晶圓廠的缺陷圖片進行識別以及分類，且能適應于多種缺陷圖片類型： SEM(電子顯微鏡)以及OM(光學顯微鏡)圖片，這就是我們研發的ADC產品。

缺陷處理速度的優勢，對晶圓廠而言尤為重要，要維持提高良率，必須對產線進行24小時的監控，因此發現問題到處理完成的時效性，對晶圓廠的經濟指標非常重要。我們的ADC產品可以實現近20倍的提速，可以將處理缺陷問題的效率提高將近67%，為晶圓廠帶來巨大的經濟收益。

目前我們的ADC產品已經在國內頭部的晶圓廠中進行了部署，并得到了實地驗證，取得了良好的效果。